量規儀器管理程序.docx

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量规倭器管理程序文件褊虢QTBJ-QP-012版本版次C/0制言丁部力品^部制信了日期2016.05.05制ITW核批准温馨提示：本文件篇本公司械密文件，未^^可，不得私自外借或禊印！修IT言已»制定/修IT日期修rr内容摘要直次版本/版次2010-06-18首次彝行—A/042014-03-01架横、流程僵化全面更新升版ALLB/042016-05-05IATF重新修得丁彝行ALLC/04 1.0目的悬硅保本公司使用的量规、倭器的型硅性,满足崖品洌量、就瞬的，隼硅性。2.0本公司用於崖品品^测量、就瞬的量规、俵器，包括横瞬员操作^^、客户的^^、现埸供鹰商的^^都需要有校型和雉^言己^。。2.1各使用军位：量规、倭器的申麟和使用谩程中的管理和保善。3.2品^部：量规、倭器的校瞬和管理。4.0定羲Jill"［廿七，I、、5.0工作程序5.1量规、倭器的申瞒和登^。5.1.1各使用军位依^除需要提出量规、倭器申麟、按《探瞒管理程序》暹行。5.1.2 2新瞒量规、倭器的瞬收由品^部依校瞬瞬收迤行。璟烷、倭器由供货商提供有效的校脓瞪1®或出I®横脓合格瞪害，瞬收不合格刖拒收。5.1.3品^部封瞬收合格的量规、倭器暹行褊虢，量规、倭器本身有编虢的以此褊虢悬准，登言已於量规/倭器一霓表上。5.1.4合格的量规、倭器交;入J®，再彝幺合申^部咒使用。5.2量烷、倭器的校瞬。5.2.1量规、器的校瞬遇期：品^部根撼本司量规、倭器的使用效率制定其遇期，校脓遇期卷：A:避檄卡尺一年一次。B：2.5次元影像测量倭一年一次。C:膜厚测^倭一年一次。D:氟密性检测倭一年一次。5.2.2校^^型：外校5.2.2.1外部校瞬：避檄卡尺、2.5次元影像测量倭、膜厚测就倭、、氟密性拗肌羲。5.2.2.2免校：冶具在使用前由品管暹行50s。5.2.3内校：品^部依摞量规、倭器的校^遇期，每月樊出校脓通知东合相^部力，各使用部咒招量规集中统一在规定的日期内送交品^部校瞬。5.2.4校瞬檄型必须追溯至阈家熬可的襟津、校瞬员必须^培笥II T矍取校瞬资格IS才能孰行本司的量规校瞬。5.2.5外校必须由阈家言忍可的言十量横冽I檄横迤行校瞬。5.2.6校®^吉果的才嘱战和言己^。5.2.6.1内校合格的量规时合格襟示。外校倭器檄型合格彳爰，贴外校罩位提供的校瞬襟翕。5.2.6.2内校不合格贴“校瞬不合格”檄筵，36揩其返修、重校或辍屡虑理。5.2.6.3封於检瞬（事处虞）言己^偏离隹烧靶以下，品^部gg封崖品颈期使用IM除押估。如崖品已彝^幺合客户，由品^部通知市埸部告知客户。5.2.6.5校瞬尔吉果言己於《量烧倭器校,脓辍告》上。5.3封於量规、倭器在有效畤内彝现襄或不津硅畤，必须弥恰刻寺期内所测量的崖品做全面的^查和官己金条，以硅保其数撼的正硅性。5.4量烷、倭器在使用中^^除使用情况来^整校瞬遇期。5.5使用部「月必名期故好量烧、倭器的保叠和存放，品^部事用量规、倭器由事人负责保管。封於具工所操作的量规、倭器、客户擦有的^^或者现埸供鹰商挑有的借暹行管控。5.5.2制程崖品和谩程控制的软件版本迤行瞬瞪管控。5.5.3时於在裂造谩程中，可能辗法通谩谩程能力瞪^崖品的符合性。封於道些谩程。可探用替代方法，如：批次封烧靶的符合性。5.6量具如有丧失、损壤愿向品^部甄告，凡损壤的量规、倭器鹰立即停用，雉修接再校瞬，校正接方可畿^使用。5.7封量测系统燮昊性分析，^参考《MSA管理程序》6.0相雕璐6.1《量烧倭器一霓表》6.2《量烧倭器校瞬辍告》7.0相酷1文件7.1《量规倭器管理程序》7.2《MSA管理程序》8.0流程置］IxiA次。